Phân tích tác động của thử nghiệm nhiệt độ đối với hiệu suất của thành phần điện tử
1. Thiết lập môi trường thử nghiệm Kiểm tra nhiệt độ, là một phương pháp quan trọng để đánh giá hiệu suất của các thành phần điện tử trong các điều kiện nhiệt độ khác nhau, ảnh hưởng trực tiếp đến độ chính xác và độ tin cậy của kết quả thử nghiệm.Nói chung, môi trường thử nghiệm cần phải được tùy chỉnh dựa trên loại cụ thể của các thành phần điện tử và các kịch bản ứng dụng của chúng.phạm vi nhiệt độ để thử nghiệm nhiệt độ của thiết bị điện tử tiêu dùng thường được thiết lập từ 0 °C đến 40 °C, trong khi đối với các sản phẩm điện tử cấp quân sự và hàng không vũ trụ, phạm vi nhiệt độ có thể mở rộng từ -55 °C đến 125 °C. Để đảm bảo độ chính xác của thử nghiệm,Thiết bị kiểm tra nhiệt độ chuyên nghiệp thường được sử dụng để mô phỏng các môi trường khắc nghiệt này, với kiểm soát nghiêm ngặt về biến động nhiệt độ trong giới hạn cho phép. 2. Thay đổi hiệu suất điện Sự thay đổi nhiệt độ ảnh hưởng đáng kể đến hiệu suất điện của các thành phần điện tử. Trong môi trường nhiệt độ cao hoặc thấp, các thông số điện như điện trở, công suất,và cảm ứng của các thành phần điện tử trải qua những thay đổiNhững thay đổi này có thể dẫn đến các sai lệch so với các giá trị thiết kế, ảnh hưởng đến hiệu suất tổng thể của các sản phẩm điện tử.Nhiệt độ cao có thể gây ra sự gia tăng kháng và giảm dung lượng của các thành phần điện tử, trong khi nhiệt độ thấp có thể dẫn đến giảm kháng và tăng dung lượng.biến động nhiệt độ cũng có thể gây ra các vấn đề như sự chậm trễ truyền tín hiệu và tăng tiếng ồn mạch, ảnh hưởng đến sự ổn định của các sản phẩm điện tử. 3Đánh giá ổn định nhiệt Đánh giá sự ổn định nhiệt là một khía cạnh quan trọng của thử nghiệm nhiệt độ.có thể đánh giá sự thay đổi tính chất vật lý và hóa học của chúng trong môi trường nhiệt độ caoCác thử nghiệm ổn định nhiệt thường tập trung vào các chỉ số như mất chất lượng vật liệu, nhiệt độ phân hủy nhiệt, tỷ lệ mất trọng lượng nhiệt,và hệ số mở rộng nhiệtKết quả đo của các chỉ số này có thể phản ánh nguy cơ suy giảm hiệu suất hoặc hư hỏng các thành phần điện tử trong môi trường nhiệt độ cao. 4. Kiểm tra độ tin cậy chức năng Kiểm tra độ tin cậy chức năng là một bước quan trọng để xác minh liệu các thành phần điện tử có thể hoạt động đúng cách trong các điều kiện nhiệt độ khác nhau hay không.Kiểm tra này không chỉ tập trung vào hiệu suất của các thành phần điện tử ở nhiệt độ cực đoan mà còn đánh giá tính ổn định chức năng và độ tin cậy của chúng trong biến đổi nhiệt độBằng cách mô phỏng thay đổi nhiệt độ trong các kịch bản làm việc thực tế,có thể phát hiện các tình huống hỏng của các thành phần điện tử trong môi trường phức tạp như chu kỳ nhiệt độ và sốc nhiệt, do đó đánh giá mức độ tin cậy tổng thể của họ. 5Phân tích lão hóa vật liệu Các tác động của nhiệt độ đối với sự lão hóa vật liệu của các thành phần điện tử đặc biệt rõ ràng.Các vật liệu của các thành phần điện tử có thể gặp các hiện tượng như mỏng lẻo, mềm, mở rộng, vv, có thể ảnh hưởng đáng kể đến tuổi thọ và hiệu suất của các thành phần điện tử.Phân tích lão hóa vật liệu chủ yếu tập trung vào những thay đổi vật lý và hóa học của vật liệu dưới nhiệt độ cao và tác động của chúng đến hiệu suất của các thành phần điện tửBằng cách phân tích các cơ chế lão hóa vật liệu, những hiểu biết có giá trị có thể được cung cấp cho việc thiết kế và sản xuất các thành phần điện tử. 6. Nhận dạng chế độ thất bại Trong thử nghiệm nhiệt độ, xác định các chế độ lỗi của các thành phần điện tử là rất quan trọng để tối ưu hóa thiết kế và tăng độ tin cậy.hư hỏng cơ khíBằng cách tiến hành phân tích sâu về nguyên nhân và cơ chế hỏng, các yếu tố chính dẫn đến sự hỏng của các thành phần điện tử có thể được xác định.và các biện pháp tương ứng có thể được thực hiện để cải thiệnVí dụ như để giải quyết các lỗi điện do biến đổi nhiệt độ,Cải thiện thiết kế mạch và lựa chọn vật liệu có độ ổn định nhiệt tuyệt vời có thể cải thiện độ tin cậy của các thành phần điện tử. 7. Các khuyến nghị tối ưu hóa Để giảm thiểu tác động của nhiệt độ đối với hiệu suất của các thành phần điện tử, các khuyến nghị tối ưu hóa sau đây có thể được đề xuất: - Sử dụng vật liệu chất lượng cao: Sử dụng vật liệu có độ ổn định nhiệt và chống nhiệt độ tuyệt vời để sản xuất các thành phần điện tử. - Tối ưu hóa thiết kế mạch: Giảm gradient nhiệt độ trong mạch thông qua bố trí và dây điện thích hợp để giảm thiểu tác động của căng thẳng nhiệt đối với các thành phần điện tử. - Cải thiện thiết kế phân tán nhiệt: Cải thiện hiệu quả phân tán nhiệt của các thành phần điện tử bằng cách thực hiện các biện pháp phân tán nhiệt hiệu quả để giảm nhiệt độ hoạt động của chúng. - Thực hiện các biện pháp xử lý trước và bảo vệ:Thực hiện xử lý kỹ lưỡng các thành phần điện tử trước khi thử nghiệm nhiệt độ để giảm thiểu tác động của biến đổi nhiệt độ đối với hiệu suất của chúng; áp dụng các biện pháp bảo vệ thích hợp trong quá trình thử nghiệm để ngăn ngừa thiệt hại cho các thành phần điện tử. URL:https://klychip.com/article/the-impact-of-temperature-testing-on-
Các vấn đề trong thử nghiệm cuộc sống tăng tốc của các thành phần điện tử
1. Tổng quan về các vấn đề Kiểm tra tuổi thọ tăng tốc của các thành phần điện tử là một phương tiện quan trọng để đánh giá độ tin cậy của sản phẩm, tối ưu hóa thiết kế và hợp lý hóa quy trình sản xuất.các vấn đề khác nhau thường phát sinh như lựa chọn không đúng các biến gia tốcCác vấn đề này trực tiếp ảnh hưởng đến độ chính xác và độ tin cậy của kết quả thử nghiệm.bài viết này sẽ thảo luận về những vấn đề này và các giải pháp của họ tập trung vào việc lựa chọn các biến gia tốc, sử dụng các mô hình gia tốc và thu thập dữ liệu. 2Các vấn đề với sự lựa chọn biến gia tốc Mô tả vấn đề Việc lựa chọn các biến gia tốc là rất quan trọng đối với sự thành công của thử nghiệm tuổi thọ tăng tốc.lựa chọn các biến gia tốc thích hợp trở nên khó khănNếu các biến gia tốc được chọn không tăng tốc hiệu quả quá trình hỏng của sản phẩm hoặc thay đổi cơ chế hỏng, nó sẽ dẫn đến kết quả thử nghiệm không chính xác. Giải pháp - Hiểu sâu về cơ chế hỏng: Trước khi chọn các biến gia tốc, cần phải hiểu kỹ về cơ chế hỏng của các thành phần điện tử.Phân tích tác động của các căng thẳng khác nhau đối với cơ chế thất bại để chọn các biến có thể tăng tốc hiệu quả quá trình thất bại mà không thay đổi cơ chế thất bại. - Kiểm tra kết hợp đa biến: Đối với các thành phần điện tử phức tạp,xem xét sử dụng thử nghiệm kết hợp nhiều biến để tăng hiệu quả và độ chính xác của thử nghiệm bằng cách tích hợp các hiệu ứng của nhiều biến gia tốc. - Chọn dựa trên dữ liệu: Sử dụng dữ liệu lịch sử và kỹ thuật mô phỏng để dự đoán và đánh giá tác động của các biến gia tốc,do đó chọn sự kết hợp tối ưu của các biến gia tốc. 3Các vấn đề với việc sử dụng mô hình tăng tốc Mô tả vấn đề Các mô hình gia tốc phục vụ như một cầu nối kết nối các biến áp lực và tuổi thọ, ảnh hưởng đáng kể đến kết quả thử nghiệm.lựa chọn không chính xác của các mô hình gia tốc hoặc thiếu hiểu biết sâu sắc về các thông số mô hình thường dẫn đến sai lệch so với kết quả mong đợi. Giải pháp - Chọn hợp lý các mô hình gia tốc: Dựa trên các cơ chế hỏng của các thành phần điện tử và các đặc điểm của các biến gia tốc, chọn các mô hình gia tốc phù hợp.Các mô hình gia tốc thường được sử dụng bao gồm mô hình Arrhenius, mô hình luật năng lượng ngược, vv - Chế độ hiệu chuẩn các tham số mô hình:Kiểm tra các thông số của các mô hình gia tốc bằng cách sử dụng một lượng lớn dữ liệu thử nghiệm để đảm bảo rằng mô hình phản ánh chính xác mối quan hệ giữa căng thẳng và tuổi thọ. - Xác nhận mô hình: Trước khi thử nghiệm chính thức, xác nhận mô hình đã chọn để đảm bảo khả năng dự đoán chính xác các đặc điểm đời sống của sản phẩm. 4Các vấn đề với thu thập dữ liệu Mô tả vấn đề Thu thập dữ liệu là một khía cạnh quan trọng của thử nghiệm cuộc sống tăng tốc, nhưng trong các hoạt động thực tế, sự phức tạp của điều kiện thử nghiệm, khối lượng dữ liệu lớn,và mức độ ồn cao thường làm cho việc thu thập dữ liệu khó khăn, ảnh hưởng đến độ chính xác và độ tin cậy của kết quả thử nghiệm. Giải pháp - Tối ưu hóa các hệ thống thu thập dữ liệu: Sử dụng các thiết bị thu thập dữ liệu chính xác và ổn định cao để đảm bảo độ chính xác và độ tin cậy của việc thu thập dữ liệu.tối ưu hóa các chương trình thu thập dữ liệu để giảm nhiễu nhiễu. - Phối hợp nhiều nguồn dữ liệu: Kết hợp các nguồn dữ liệu khác nhau như dữ liệu cảm biến, dữ liệu hình ảnh, v.v., cho sự hợp nhất dữ liệu đa nguồn để tăng sự phong phú và chính xác dữ liệu. - Kỹ thuật phân tích dữ liệu: Sử dụng các kỹ thuật phân tích dữ liệu tiên tiến như khai thác dữ liệu, học máy, vv, để xử lý và phân tích dữ liệu lớn, chiết xuất thông tin và mô hình có giá trị. 5Các biện pháp toàn diện 1Thiết kế thử nghiệm Phát triển các thiết kế thử nghiệm hợp lý về mặt khoa học xác định rõ các mục tiêu, điều kiện, bước thử nghiệm,và các phương pháp phân tích dữ liệu để bao gồm toàn diện các cơ chế hỏng và biến gia tốc của các thành phần điện tử. 2Các hoạt động tiêu chuẩn Thiết lập các giao thức hoạt động thử nghiệm tiêu chuẩn để đảm bảo tính chính xác và nhất quán của các hoạt động trong quá trình thử nghiệm.Cung cấp đào tạo chuyên môn để kiểm tra nhân viên để nâng cao kỹ năng và kiến thức hoạt động của họ. 3. Cải thiện liên tục Tiếp tục học hỏi từ kinh nghiệm trong quá trình thử nghiệm và liên tục cải thiện và tối ưu hóa thiết kế thử nghiệm, hệ thống thu thập dữ liệu và kỹ thuật phân tích dữ liệu.Tăng cường giao tiếp và hợp tác với các chuyên gia trong ngành để thúc đẩy phát triển công nghệ kiểm tra tuổi thọ tăng tốc cho các thành phần điện tử.
Phân tích tác động của thử nghiệm nhiệt độ đối với hiệu suất của thành phần điện tử
1. Thiết lập môi trường thử nghiệm Kiểm tra nhiệt độ, là một phương pháp quan trọng để đánh giá hiệu suất của các thành phần điện tử trong các điều kiện nhiệt độ khác nhau, ảnh hưởng trực tiếp đến độ chính xác và độ tin cậy của kết quả thử nghiệm.Nói chung, môi trường thử nghiệm cần phải được tùy chỉnh dựa trên loại cụ thể của các thành phần điện tử và các kịch bản ứng dụng của chúng.phạm vi nhiệt độ để thử nghiệm nhiệt độ của thiết bị điện tử tiêu dùng thường được thiết lập từ 0 °C đến 40 °C, trong khi đối với các sản phẩm điện tử cấp quân sự và hàng không vũ trụ, phạm vi nhiệt độ có thể mở rộng từ -55 °C đến 125 °C. Để đảm bảo độ chính xác của thử nghiệm,Thiết bị kiểm tra nhiệt độ chuyên nghiệp thường được sử dụng để mô phỏng các môi trường khắc nghiệt này, với kiểm soát nghiêm ngặt về biến động nhiệt độ trong giới hạn cho phép. 2. Thay đổi hiệu suất điện Sự thay đổi nhiệt độ ảnh hưởng đáng kể đến hiệu suất điện của các thành phần điện tử. Trong môi trường nhiệt độ cao hoặc thấp, các thông số điện như điện trở, công suất,và cảm ứng của các thành phần điện tử trải qua những thay đổiNhững thay đổi này có thể dẫn đến các sai lệch so với các giá trị thiết kế, ảnh hưởng đến hiệu suất tổng thể của các sản phẩm điện tử.Nhiệt độ cao có thể gây ra sự gia tăng kháng và giảm dung lượng của các thành phần điện tử, trong khi nhiệt độ thấp có thể dẫn đến giảm kháng và tăng dung lượng.biến động nhiệt độ cũng có thể gây ra các vấn đề như sự chậm trễ truyền tín hiệu và tăng tiếng ồn mạch, ảnh hưởng đến sự ổn định của các sản phẩm điện tử. 3Đánh giá ổn định nhiệt Đánh giá sự ổn định nhiệt là một khía cạnh quan trọng của thử nghiệm nhiệt độ.có thể đánh giá sự thay đổi tính chất vật lý và hóa học của chúng trong môi trường nhiệt độ caoCác thử nghiệm ổn định nhiệt thường tập trung vào các chỉ số như mất chất lượng vật liệu, nhiệt độ phân hủy nhiệt, tỷ lệ mất trọng lượng nhiệt,và hệ số mở rộng nhiệtKết quả đo của các chỉ số này có thể phản ánh nguy cơ suy giảm hiệu suất hoặc hư hỏng các thành phần điện tử trong môi trường nhiệt độ cao. 4. Kiểm tra độ tin cậy chức năng Kiểm tra độ tin cậy chức năng là một bước quan trọng để xác minh liệu các thành phần điện tử có thể hoạt động đúng cách trong các điều kiện nhiệt độ khác nhau hay không.Kiểm tra này không chỉ tập trung vào hiệu suất của các thành phần điện tử ở nhiệt độ cực đoan mà còn đánh giá tính ổn định chức năng và độ tin cậy của chúng trong biến đổi nhiệt độBằng cách mô phỏng thay đổi nhiệt độ trong các kịch bản làm việc thực tế,có thể phát hiện các tình huống hỏng của các thành phần điện tử trong môi trường phức tạp như chu kỳ nhiệt độ và sốc nhiệt, do đó đánh giá mức độ tin cậy tổng thể của họ. 5Phân tích lão hóa vật liệu Các tác động của nhiệt độ đối với sự lão hóa vật liệu của các thành phần điện tử đặc biệt rõ ràng.Các vật liệu của các thành phần điện tử có thể gặp các hiện tượng như mỏng lẻo, mềm, mở rộng, vv, có thể ảnh hưởng đáng kể đến tuổi thọ và hiệu suất của các thành phần điện tử.Phân tích lão hóa vật liệu chủ yếu tập trung vào những thay đổi vật lý và hóa học của vật liệu dưới nhiệt độ cao và tác động của chúng đến hiệu suất của các thành phần điện tửBằng cách phân tích các cơ chế lão hóa vật liệu, những hiểu biết có giá trị có thể được cung cấp cho việc thiết kế và sản xuất các thành phần điện tử. 6. Nhận dạng chế độ thất bại Trong thử nghiệm nhiệt độ, xác định các chế độ lỗi của các thành phần điện tử là rất quan trọng để tối ưu hóa thiết kế và tăng độ tin cậy.hư hỏng cơ khíBằng cách tiến hành phân tích sâu về nguyên nhân và cơ chế hỏng, các yếu tố chính dẫn đến sự hỏng của các thành phần điện tử có thể được xác định.và các biện pháp tương ứng có thể được thực hiện để cải thiệnVí dụ như để giải quyết các lỗi điện do biến đổi nhiệt độ,Cải thiện thiết kế mạch và lựa chọn vật liệu có độ ổn định nhiệt tuyệt vời có thể cải thiện độ tin cậy của các thành phần điện tử. 7. Các khuyến nghị tối ưu hóa Để giảm thiểu tác động của nhiệt độ đối với hiệu suất của các thành phần điện tử, các khuyến nghị tối ưu hóa sau đây có thể được đề xuất: - Sử dụng vật liệu chất lượng cao: Sử dụng vật liệu có độ ổn định nhiệt và chống nhiệt độ tuyệt vời để sản xuất các thành phần điện tử. - Tối ưu hóa thiết kế mạch: Giảm gradient nhiệt độ trong mạch thông qua bố trí và dây điện thích hợp để giảm thiểu tác động của căng thẳng nhiệt đối với các thành phần điện tử. - Cải thiện thiết kế phân tán nhiệt: Cải thiện hiệu quả phân tán nhiệt của các thành phần điện tử bằng cách thực hiện các biện pháp phân tán nhiệt hiệu quả để giảm nhiệt độ hoạt động của chúng. - Thực hiện các biện pháp xử lý trước và bảo vệ:Thực hiện xử lý kỹ lưỡng các thành phần điện tử trước khi thử nghiệm nhiệt độ để giảm thiểu tác động của biến đổi nhiệt độ đối với hiệu suất của chúng; áp dụng các biện pháp bảo vệ thích hợp trong quá trình thử nghiệm để ngăn ngừa thiệt hại cho các thành phần điện tử. URL:https://klychip.com/article/the-impact-of-temperature-testing-on-
Các vấn đề trong thử nghiệm cuộc sống tăng tốc của các thành phần điện tử
1. Tổng quan về các vấn đề Kiểm tra tuổi thọ tăng tốc của các thành phần điện tử là một phương tiện quan trọng để đánh giá độ tin cậy của sản phẩm, tối ưu hóa thiết kế và hợp lý hóa quy trình sản xuất.các vấn đề khác nhau thường phát sinh như lựa chọn không đúng các biến gia tốcCác vấn đề này trực tiếp ảnh hưởng đến độ chính xác và độ tin cậy của kết quả thử nghiệm.bài viết này sẽ thảo luận về những vấn đề này và các giải pháp của họ tập trung vào việc lựa chọn các biến gia tốc, sử dụng các mô hình gia tốc và thu thập dữ liệu. 2Các vấn đề với sự lựa chọn biến gia tốc Mô tả vấn đề Việc lựa chọn các biến gia tốc là rất quan trọng đối với sự thành công của thử nghiệm tuổi thọ tăng tốc.lựa chọn các biến gia tốc thích hợp trở nên khó khănNếu các biến gia tốc được chọn không tăng tốc hiệu quả quá trình hỏng của sản phẩm hoặc thay đổi cơ chế hỏng, nó sẽ dẫn đến kết quả thử nghiệm không chính xác. Giải pháp - Hiểu sâu về cơ chế hỏng: Trước khi chọn các biến gia tốc, cần phải hiểu kỹ về cơ chế hỏng của các thành phần điện tử.Phân tích tác động của các căng thẳng khác nhau đối với cơ chế thất bại để chọn các biến có thể tăng tốc hiệu quả quá trình thất bại mà không thay đổi cơ chế thất bại. - Kiểm tra kết hợp đa biến: Đối với các thành phần điện tử phức tạp,xem xét sử dụng thử nghiệm kết hợp nhiều biến để tăng hiệu quả và độ chính xác của thử nghiệm bằng cách tích hợp các hiệu ứng của nhiều biến gia tốc. - Chọn dựa trên dữ liệu: Sử dụng dữ liệu lịch sử và kỹ thuật mô phỏng để dự đoán và đánh giá tác động của các biến gia tốc,do đó chọn sự kết hợp tối ưu của các biến gia tốc. 3Các vấn đề với việc sử dụng mô hình tăng tốc Mô tả vấn đề Các mô hình gia tốc phục vụ như một cầu nối kết nối các biến áp lực và tuổi thọ, ảnh hưởng đáng kể đến kết quả thử nghiệm.lựa chọn không chính xác của các mô hình gia tốc hoặc thiếu hiểu biết sâu sắc về các thông số mô hình thường dẫn đến sai lệch so với kết quả mong đợi. Giải pháp - Chọn hợp lý các mô hình gia tốc: Dựa trên các cơ chế hỏng của các thành phần điện tử và các đặc điểm của các biến gia tốc, chọn các mô hình gia tốc phù hợp.Các mô hình gia tốc thường được sử dụng bao gồm mô hình Arrhenius, mô hình luật năng lượng ngược, vv - Chế độ hiệu chuẩn các tham số mô hình:Kiểm tra các thông số của các mô hình gia tốc bằng cách sử dụng một lượng lớn dữ liệu thử nghiệm để đảm bảo rằng mô hình phản ánh chính xác mối quan hệ giữa căng thẳng và tuổi thọ. - Xác nhận mô hình: Trước khi thử nghiệm chính thức, xác nhận mô hình đã chọn để đảm bảo khả năng dự đoán chính xác các đặc điểm đời sống của sản phẩm. 4Các vấn đề với thu thập dữ liệu Mô tả vấn đề Thu thập dữ liệu là một khía cạnh quan trọng của thử nghiệm cuộc sống tăng tốc, nhưng trong các hoạt động thực tế, sự phức tạp của điều kiện thử nghiệm, khối lượng dữ liệu lớn,và mức độ ồn cao thường làm cho việc thu thập dữ liệu khó khăn, ảnh hưởng đến độ chính xác và độ tin cậy của kết quả thử nghiệm. Giải pháp - Tối ưu hóa các hệ thống thu thập dữ liệu: Sử dụng các thiết bị thu thập dữ liệu chính xác và ổn định cao để đảm bảo độ chính xác và độ tin cậy của việc thu thập dữ liệu.tối ưu hóa các chương trình thu thập dữ liệu để giảm nhiễu nhiễu. - Phối hợp nhiều nguồn dữ liệu: Kết hợp các nguồn dữ liệu khác nhau như dữ liệu cảm biến, dữ liệu hình ảnh, v.v., cho sự hợp nhất dữ liệu đa nguồn để tăng sự phong phú và chính xác dữ liệu. - Kỹ thuật phân tích dữ liệu: Sử dụng các kỹ thuật phân tích dữ liệu tiên tiến như khai thác dữ liệu, học máy, vv, để xử lý và phân tích dữ liệu lớn, chiết xuất thông tin và mô hình có giá trị. 5Các biện pháp toàn diện 1Thiết kế thử nghiệm Phát triển các thiết kế thử nghiệm hợp lý về mặt khoa học xác định rõ các mục tiêu, điều kiện, bước thử nghiệm,và các phương pháp phân tích dữ liệu để bao gồm toàn diện các cơ chế hỏng và biến gia tốc của các thành phần điện tử. 2Các hoạt động tiêu chuẩn Thiết lập các giao thức hoạt động thử nghiệm tiêu chuẩn để đảm bảo tính chính xác và nhất quán của các hoạt động trong quá trình thử nghiệm.Cung cấp đào tạo chuyên môn để kiểm tra nhân viên để nâng cao kỹ năng và kiến thức hoạt động của họ. 3. Cải thiện liên tục Tiếp tục học hỏi từ kinh nghiệm trong quá trình thử nghiệm và liên tục cải thiện và tối ưu hóa thiết kế thử nghiệm, hệ thống thu thập dữ liệu và kỹ thuật phân tích dữ liệu.Tăng cường giao tiếp và hợp tác với các chuyên gia trong ngành để thúc đẩy phát triển công nghệ kiểm tra tuổi thọ tăng tốc cho các thành phần điện tử.